液晶55寸拼接屏顯示單元缺陷自動(dòng)檢測(cè)方法的研究
隨著社會(huì)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和人們生活質(zhì)量的提高，市場(chǎng)上對(duì)液晶55寸拼接屏的需求逐漸擴(kuò)大，液晶顯示屏的生產(chǎn)行業(yè)呈現(xiàn)出系統(tǒng)化與趨勢(shì)化的發(fā)展方向。液晶顯示單元的缺陷檢測(cè)工作作為生產(chǎn)過程中關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一，正處于由人工檢測(cè)向自動(dòng)化檢測(cè)的過渡階段。本文針對(duì)液晶顯示屏缺陷自動(dòng)檢測(cè)方法進(jìn)行研究，旨在提高自動(dòng)檢測(cè)的質(zhì)量，促進(jìn)液晶顯示屏制造行業(yè)的快速發(fā)展。
一、液晶顯示單元缺陷分類
液晶55寸拼接屏顯示單元的生產(chǎn)流程包括鍍膜、顯影、組合面板、安裝芯片等程序，復(fù)雜、漫長的制作工序容易導(dǎo)致缺陷的產(chǎn)生。在一般情況下，生產(chǎn)企業(yè)會(huì)將液晶55寸拼接屏顯示單元的檢測(cè)分為兩類，一類是表面的外觀性檢測(cè)，另一方面是功能性的檢測(cè)。其中，表面外觀性檢測(cè)可以通過使用機(jī)器視覺系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)，根據(jù)不同的檢測(cè)原則能夠進(jìn)行不同的分類，從尺寸上可以分為圍觀缺陷和宏觀缺陷，從形狀上可以分為點(diǎn)缺陷、線缺陷和mura缺陷三種類型。
二液晶顯示單元點(diǎn)、線缺陷檢測(cè)
在液晶55寸拼接屏顯示單元生產(chǎn)過程中，點(diǎn)、線缺陷是兩種發(fā)生率最高的缺陷，雖然它們的缺陷類型不同，但它們的亮度和對(duì)比度特征是相同的，因此企業(yè)一般使用相同的圖像分割技術(shù)與輪廓檢測(cè)技術(shù)對(duì)它們進(jìn)行缺陷檢測(cè)。由于圖像是一種能夠進(jìn)行復(fù)雜變化的表現(xiàn)形式，不同人對(duì)相同圖像的關(guān)注點(diǎn)也不同，因此在圖像分割方面有基于閾值、區(qū)域、邊緣等不同因素的分割算法，根據(jù)實(shí)際情況選擇不同算法來進(jìn)行缺陷檢測(cè)。首先要進(jìn)行圖像預(yù)處理，由于受到采集條件與周圍環(huán)境的影響，包括攝像頭采光和信息數(shù)據(jù)傳輸?shù)?，采集到的?shí)際圖像并無法直接用來研究，而是要進(jìn)行一系列的預(yù)處理工序，把圖像變成算法的標(biāo)準(zhǔn)化輸入，盡量避免受到其他因素影響。圖像的預(yù)處理結(jié)果好壞直接影響著算法的應(yīng)用情況，與缺陷檢測(cè)結(jié)果具有緊密聯(lián)系。在顯示系統(tǒng)中，由于液晶55寸拼接屏顯示單元的某些缺陷只體現(xiàn)在幾個(gè)像素點(diǎn)上，所以不能使用去噪平滑處理，否則會(huì)削弱缺陷像素點(diǎn)的特征，影響檢測(cè)結(jié)果。因此檢測(cè)系統(tǒng)在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)一般會(huì)選擇簡單的閾值分割計(jì)算方法，保證檢測(cè)工序的效率和質(zhì)量。
三、液晶顯示單元mura缺陷檢測(cè)
在進(jìn)行mura缺陷檢測(cè)之前，肉眼會(huì)先進(jìn)行整體性的觀察，但人類難以檢測(cè)出高分辨率原圖中的mura缺陷，因此要先縮放圖像，降低圖像的液晶紋理對(duì)檢測(cè)結(jié)果的干擾，還可以通過圖像重建的方式來進(jìn)行背景模擬，直接消除圖像中的細(xì)節(jié)差異和亮度不均勻現(xiàn)象，便于不同類型mura缺陷的檢測(cè)。液晶55寸拼接屏顯示單元在生產(chǎn)過程中會(huì)被貼上標(biāo)簽，來標(biāo)記產(chǎn)品是否已經(jīng)通過了上一道檢測(cè)程序，而在自動(dòng)檢測(cè)過程中，液晶顯示單元和標(biāo)簽會(huì)被拍攝下來，給檢測(cè)結(jié)果帶來不利影響。一方面，標(biāo)簽符合缺陷定義，所以會(huì)被檢測(cè)系統(tǒng)識(shí)別成為缺陷；另一方面由于部分mura缺陷檢測(cè)方法是以背景重建為基礎(chǔ)，在重建以后標(biāo)簽的影響會(huì)繼續(xù)衍生，所以操作人員必須要在進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)之前對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行精確定位，消除它的影響。標(biāo)簽本身的尺寸和形狀不會(huì)發(fā)生改變，因此可以用模板匹配法來進(jìn)行檢測(cè)。在不同液晶55寸拼接屏顯示單元上，標(biāo)簽的灰度值是不同的，且標(biāo)簽自身的灰度分布也具有不均勻性，因此應(yīng)該先對(duì)標(biāo)簽?zāi)０暹M(jìn)行平滑均值，避免隨機(jī)噪聲產(chǎn)生的影響，還可以使用誤差控制闕值法來加速匹配，進(jìn)行模板消除和結(jié)果檢測(cè)，降低標(biāo)簽的影響。液晶55寸拼接屏顯示單元的缺陷類型有很多，mura缺陷屬于發(fā)生概率較小的一種缺陷，但它經(jīng)常會(huì)集中出現(xiàn)在某一批液晶產(chǎn)品中，導(dǎo)致這一批次的液晶屏具有更高的缺陷率，對(duì)企業(yè)造成無法挽回的損失。因此必須加強(qiáng)對(duì)mura缺陷椅測(cè)的重視，通過使用以圖像重建為基礎(chǔ)的檢測(cè)算法對(duì)mura缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，提高檢測(cè)質(zhì)量，保障產(chǎn)品的使用性能。
四、結(jié)束語
液晶55寸拼接屏顯示單元的缺陷檢測(cè)工作是產(chǎn)品質(zhì)量的重要保障之一，在生產(chǎn)流程的每個(gè)環(huán)節(jié)中都要進(jìn)行缺陷檢測(cè)，而目前使用的人工檢測(cè)成本高，效率低，難以適應(yīng)時(shí)代發(fā)展的趨勢(shì)。因此企業(yè)必須加大對(duì)液晶55寸拼接屏顯示單元自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)的研究，提高檢測(cè)技術(shù)和檢測(cè)質(zhì)量，降低生產(chǎn)成本，促進(jìn)企業(yè)自動(dòng)化設(shè)備的發(fā)展和經(jīng)濟(jì)效益的提高。
